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    FEI TECNAI G2 20三维透射电子显微镜

    技术指标:

    点分辨率:0.25nm;

    信息分辨率:0.14nm;

    加速电压:最大200KV;

    放大倍数:

    TEM放大倍数:22X-930KX;

    附件: 3D Tomography

     

    主要功能:

    固体材料微观结构、组织成分、晶格、微孔分布、颗粒形貌大小等高分辨率分析。



     


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